下記の通り、半導体分析セミナーを開催いたします。
ご興味のある方は、ご参加ください。

■日時: 2018年11月22日(木) 14:50 ～ 16:50
■開場: ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー 3F プロジェクト研究交流室

■講師: 株式会社東レリサーチセンター

■プログラム
 14:50　　　　はじめに
 14:55 – 15:05　東レリサーチセンターの御紹介
 15:05 – 15:40　学生・若手研究者のための分析・計測技術基礎講座
 15:40 – 16:15　二次イオン質量分析法（SIMS）による微量元素分析
 16:15 – 16:50　電子顕微鏡を駆使したデバイス構造解析

■対象(申し込み不要): 学生・教職員

主催: エレクトロニクス先端融合研究所、技術支援室